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產(chǎn)品中心三維光學(xué)輪廓儀Sensofar
Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術(shù)表面測(cè)量 Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀采用模塊化設(shè)計(jì)，集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面疊加四種測(cè)量模式。
更新時(shí)間：2025-09-08
產(chǎn)品型號(hào)：S neox
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Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，適用于微納米級(jí)表面形貌分析，可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間：2025-09-08產(chǎn)品型號(hào)：S neox瀏覽量：90Sensofar三維輪廓儀：共聚焦與干涉測(cè)量結(jié)合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，適用于微納米級(jí)表面形貌分析，可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間：2025-09-08產(chǎn)品型號(hào)：S neox瀏覽量：70
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，適用于微納米級(jí)表面形貌分析，可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
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Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態(tài)測(cè)量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，適用于微納米級(jí)表面形貌分析，可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間：2025-09-08產(chǎn)品型號(hào)：S neox瀏覽量：80Sensofar：專注工業(yè)，高效檢測(cè) Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，適用于微納米級(jí)表面形貌分析，可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
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