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布魯克白光干涉儀：輪廓測量新選擇 在材料微觀特性探究、元件質(zhì)量把控的科研及工業(yè)場景里，表面輪廓測量的精度與效率，直接影響著研究進展與產(chǎn)品品質(zhì)。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀，以其精巧設(shè)計與實用功能，成為眾多專業(yè)人士信賴的得力工具。下面為你介紹兩款該系列的產(chǎn)品。

三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500是全球功能***的自動化臺式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計量。ContourX-500 具有**的 Z 軸分辨率和準(zhǔn)確度，并具備布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受業(yè)界認(rèn)可的所有優(yōu)勢，而占地面積更小

三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的**融合，是同類產(chǎn)品中最快、最準(zhǔn)確、可重復(fù)性最高的非接觸式三維表面計量系統(tǒng)。該計量系統(tǒng)占地面積小，采用更大視場、5MP 數(shù)碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有**的二維/三維高分辨測量能力

具備最高性價比的 三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測量樹立了新基準(zhǔn)。該系統(tǒng)占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的**白光干涉（WLI）創(chuàng)新技術(shù)，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。