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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar 3D光學(xué)輪廓測(cè)量中的應(yīng)用:白光干涉共聚焦顯微鏡是一種非接觸式3D光學(xué)輪廓儀,它融合白光干涉與共聚焦技術(shù),可對(duì)微納米尺度表面進(jìn)行高分辨率三維形貌測(cè)量,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、精密加工及材料研發(fā)等領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2025-12-03
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Sensofar 3D白光干涉共聚焦顯微鏡的應(yīng)用:白光干涉共聚焦顯微鏡結(jié)合白光干涉與共聚焦技術(shù),實(shí)現(xiàn)高分辨率、非接觸式三維表面形貌測(cè)量,是3D光學(xué)輪廓儀的高級(jí)形式,廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)與科學(xué)研究。
更新時(shí)間:2025-12-03
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Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的光學(xué)檢測(cè)應(yīng)用;Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀為光學(xué)元件提供納米級(jí)精度的面形誤差、表面缺陷及膜層厚度等關(guān)鍵參數(shù)檢測(cè),確保從球面到自由曲面元件的高質(zhì)量制造與工藝優(yōu)化。
更新時(shí)間:2025-11-28
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Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的工業(yè)檢測(cè)應(yīng)用;實(shí)現(xiàn)在線高速檢測(cè)、工藝參數(shù)優(yōu)化與故障件形貌分析,并可集成于生產(chǎn)系統(tǒng),推動(dòng)智能制造質(zhì)量控制閉環(huán)。
更新時(shí)間:2025-11-28
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Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的電子材料檢測(cè):用于晶圓平整度、線寬粗糙度及封裝質(zhì)量的精確測(cè)量,為電子材料工藝優(yōu)化和可靠性評(píng)估提供支撐。
更新時(shí)間:2025-11-28
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Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的材料科學(xué)研究:支持材料表面改性、相變過(guò)程原位觀察及斷裂/腐蝕等失效分析,助力新材料的開(kāi)發(fā)與性能優(yōu)化。
更新時(shí)間:2025-11-28
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