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Sensofar顯微鏡:開啟微觀測量新體驗
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Sensofar顯微鏡:開啟微觀測量新體驗Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡,融合*技術(shù),為多領(lǐng)域提供可靠測量,開啟微觀探索新征程。
Sensofar顯微鏡:開啟微觀測量新體驗
在現(xiàn)代工業(yè)與科研的微觀世界里,對表面形貌的精準測量是推動技術(shù)進步與產(chǎn)品優(yōu)化的關(guān)鍵。Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡憑借其獨特的融合技術(shù),成為眾多領(lǐng)域測量工具。
這款顯微鏡巧妙地將共聚焦顯微鏡、白光干涉儀與多焦面疊加技術(shù)集于一身。共聚焦模式如同一位敏銳的觀察者,能夠清晰捕捉高反射率或透明材料表面的細微特征,為半導(dǎo)體、光學(xué)元件等領(lǐng)域的檢測提供清晰的3D形貌數(shù)據(jù)。而白光干涉模式則像是一位精細的雕刻師,擅長對超光滑表面進行納米級的粗糙度測量,像光學(xué)鏡片、晶圓等表面的平整度檢測,都能輕松應(yīng)對。多焦面疊加技術(shù)更是錦上添花,它可實現(xiàn)高達86度的傾斜角度觀察,讓那些隱藏在復(fù)雜結(jié)構(gòu)中的細節(jié)無所遁形。
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,芯片的性能與表面的微觀結(jié)構(gòu)息息相關(guān)。Sensofar顯微鏡能夠精確檢測晶圓表面的粗糙度,確保其粗糙度在極小范圍內(nèi),避免因表面缺陷導(dǎo)致芯片性能衰減。同時,它還能測量薄膜厚度的均勻性及蝕刻工藝后的臺階高度,為芯片制造的良品率保駕護航。在電子封裝環(huán)節(jié),它能檢測芯片與基板貼合的平整度,及時發(fā)現(xiàn)空洞、翹曲等問題,保障電子封裝的電氣性能。以動力電池模組封裝為例,它能夠以高速檢測識別涂層不均缺陷,為企業(yè)節(jié)省大量因探針刮傷導(dǎo)致的報廢成本。
在精密加工行業(yè),發(fā)動機葉片、精密齒輪等高精度零部件的表面質(zhì)量直接影響其性能和使用壽命。Sensofar顯微鏡可以測量這些零部件的表面形貌,評估加工質(zhì)量。在航空發(fā)動機鈦合金葉片檢測中,采用特定物鏡與AI多焦面疊加模式,能在短時間內(nèi)完成全葉片掃描,揭示葉根處的異常磨損帶,為葉片的維護和更換提供準確依據(jù),提升航空安全。
在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,它也有著重要的應(yīng)用。研究骨骼、牙齒、細胞等生物組織的表面形貌,有助于揭示生理病理狀態(tài)。通過分析骨骼表面微觀結(jié)構(gòu),可以深入了解骨質(zhì)疏松的發(fā)病機制;觀察細胞表面形態(tài)變化,能夠更好地理解細胞的生長、分化過程。
Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡以其融合的技術(shù)優(yōu)勢,為半導(dǎo)體、精密加工、生物醫(yī)學(xué)等多個領(lǐng)域提供了可靠的測量解決方案,成為微觀世界探索的得力助手。
Sensofar顯微鏡:開啟微觀測量新體驗
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