Sensofar 輪廓儀：解鎖粗糙度測量更多可能

產(chǎn)品簡介

Sensofar 輪廓儀：解鎖粗糙度測量更多可能
在微型電子元件制造領域，如微型傳感器、微型連接器、芯片封裝元件等，其尺寸通常以微米為單位，表面質量與尺寸精度直接決定元件的電氣性能與裝配兼容性。哪怕是幾微米的尺寸偏差或細微劃痕，都可能導致元件無法正常工作或裝配失效。

產(chǎn)品型號：S neox

更新時間：2025-10-23

廠商性質：代理商

訪問量：149

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

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Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光學輪廓儀的軟件系統(tǒng)，除基礎操作功能外，還包含豐富的拓展模塊，為不同行業(yè)用戶提供定制化測量解決方案。核心軟件 SensoSCAN 支持插件式擴展，用戶可根據(jù)需求添加行業(yè)專用分析模塊，如針對半導體行業(yè)的 “晶圓缺陷分析插件"，能自動識別晶圓表面的劃痕、凹坑等缺陷，統(tǒng)計缺陷數(shù)量與尺寸分布，并生成可視化報告；針對光學元件行業(yè)的 “面型誤差分析插件"，可計算平面度、曲率半徑等關鍵參數(shù)，且數(shù)據(jù)格式兼容主流光學設計軟件，方便后續(xù)設計優(yōu)化。

數(shù)據(jù)處理功能同樣具備拓展性，軟件內(nèi)置的 “自定義算法編輯器" 允許專業(yè)用戶編寫專屬分析公式，如在材料科學領域，用戶可編寫計算表面紋理各向異性的算法，滿足特殊研究需求。多設備協(xié)同管理模塊支持同時連接 5 臺 S neox 設備，通過統(tǒng)一軟件界面實現(xiàn)參數(shù)設置、數(shù)據(jù)采集與結果匯總，適合大型實驗室或生產(chǎn)線的多設備聯(lián)動場景。

軟件的兼容性也值得關注，支持與 CAD 軟件聯(lián)動，將測量得到的三維輪廓數(shù)據(jù)導入 CAD 系統(tǒng)，與設計模型進行對比分析，快速識別實際產(chǎn)品與設計圖紙的偏差。同時，軟件可接入工廠 MES 系統(tǒng)，實時上傳測量數(shù)據(jù)，便于生產(chǎn)過程的質量監(jiān)控與數(shù)據(jù)追溯。操作權限管理功能能為不同崗位用戶設置差異化權限，如操作員僅擁有測量與數(shù)據(jù)查看權限，管理員則可修改參數(shù)與管理用戶，保障操作安全性。

Sensofar 輪廓儀：解鎖粗糙度測量更多可能

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