Sensofar光學(xué)輪廓儀：三維表面測(cè)量新選擇

在工業(yè)計(jì)量與質(zhì)量控制領(lǐng)域，對(duì)產(chǎn)品表面進(jìn)行三維形貌測(cè)量是一項(xiàng)常見且重要的需求。Sensofar S lynx2 三維光學(xué)輪廓儀為此類應(yīng)用提供了一個(gè)經(jīng)濟(jì)實(shí)用的選擇。它集成了共聚焦和白光干涉兩種測(cè)量技術(shù)，能夠適應(yīng)多種不同的表面特性，滿足從研發(fā)到生產(chǎn)線的多種場(chǎng)景需求。

S lynx2的設(shè)計(jì)注重實(shí)用性與穩(wěn)定性。其機(jī)身結(jié)構(gòu)采用了優(yōu)質(zhì)合金材料，保證了儀器的剛性和長(zhǎng)期使用的穩(wěn)定性，有效減少了環(huán)境振動(dòng)帶來的測(cè)量誤差。工作臺(tái)面經(jīng)過精密加工，為樣品提供了平穩(wěn)的放置平臺(tái)。儀器外觀緊湊，占地面積小，非常適合放置在辦公桌或產(chǎn)線旁的測(cè)量工作站中。

在核心性能方面，S lynx2的共聚焦模式適用于測(cè)量從光滑到極度粗糙的表面，甚至是高傾斜角的表面。而它的白光干涉模式則擅長(zhǎng)于測(cè)量亞納米級(jí)到微米級(jí)光滑表面的臺(tái)階高度和形貌。兩種技術(shù)通過軟件智能切換，用戶無需手動(dòng)更換部件，提升了測(cè)量效率。

其參數(shù)表現(xiàn)均衡，例如在垂直分辨率方面，共聚焦模式可達(dá)納米級(jí)別，白光干涉模式可達(dá)亞納米級(jí)別。橫向分辨率則與所選物鏡的放大倍數(shù)相關(guān)，最高可達(dá)約0.3微米。測(cè)量速度方面，它能在數(shù)秒至一分鐘內(nèi)完成一次三維掃描，具體時(shí)間取決于所選區(qū)域大小和分辨率。

S lynx2的型號(hào)配置靈活，用戶可以根據(jù)主要的測(cè)量需求（如更側(cè)重粗糙度還是納米級(jí)薄膜臺(tái)階）來選擇不同的物鏡套組。無論是金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物還是透明材料，它都能提供相應(yīng)的測(cè)量解決方案。

使用S lynx2的過程較為簡(jiǎn)便。通過隨機(jī)附帶的專業(yè)控制軟件，用戶可以輕松設(shè)置測(cè)量區(qū)域、選擇測(cè)量模式、調(diào)整焦距。完成掃描后，軟件內(nèi)置的分析工具可快速提供粗糙度、臺(tái)階高、體積、面積等一系列參數(shù)，并生成直觀的三維形貌圖、二維輪廓線等結(jié)果，輔助用戶進(jìn)行高效決策。

Sensofar光學(xué)輪廓儀：三維表面測(cè)量新選擇