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激光干涉儀
ZYGO光學(xué)輪廓儀
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ZYGO 在MEMS器件表征中的應(yīng)用 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)器件的性能高度依賴于其三維幾何形狀。ZYGO ZeGage Pro光學(xué)輪廓儀通過白光干涉技術(shù),能夠非接觸、高精度地測(cè)量MEMS結(jié)構(gòu)的靜態(tài)形貌與動(dòng)態(tài)特性,為器件的設(shè)計(jì)驗(yàn)證、工藝優(yōu)化及可靠性評(píng)估提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-12-17
產(chǎn)品型號(hào):ZeGage Pro
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ZYGO 技術(shù)發(fā)展趨勢(shì) 測(cè)量技術(shù)的發(fā)展隨著應(yīng)用需求不斷演進(jìn)。ZYGO ZeGage Pro所代表的光學(xué)輪廓儀技術(shù),其未來發(fā)展方向可能圍繞智能化、集成化、高速化等維度展開,以適應(yīng)新的測(cè)量挑戰(zhàn)和應(yīng)用場(chǎng)景。
更新時(shí)間:2025-12-17
產(chǎn)品型號(hào):ZeGage Pro
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ZYGO 選購(gòu)指南 選擇合適的測(cè)量設(shè)備需要綜合考慮多方面因素。ZYGO ZeGage Pro光學(xué)輪廓儀作為表面形貌測(cè)量的一種選擇,其技術(shù)規(guī)格、功能配置、使用條件等都需要結(jié)合具體需求進(jìn)行評(píng)估。
更新時(shí)間:2025-12-17
產(chǎn)品型號(hào):ZeGage Pro
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ZYGO 在半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用 半導(dǎo)體制造對(duì)工藝控制和缺陷檢測(cè)有嚴(yán)格要求。ZYGO ZeGage Pro光學(xué)輪廓儀以其高分辨率和非接觸測(cè)量能力,在晶圓表面檢測(cè)、薄膜測(cè)量、微結(jié)構(gòu)表征等半導(dǎo)體相關(guān)領(lǐng)域提供測(cè)量支持。
更新時(shí)間:2025-12-17
產(chǎn)品型號(hào):ZeGage Pro
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ZYGO 數(shù)據(jù)分析方法 測(cè)量數(shù)據(jù)的深入分析能夠提取更多信息。ZYGO ZeGage Pro光學(xué)輪廓儀配套的分析軟件提供多種數(shù)據(jù)處理工具,支持用戶從三維形貌數(shù)據(jù)中獲得表面特征的各種參數(shù)和統(tǒng)計(jì)信息。
更新時(shí)間:2025-12-17
產(chǎn)品型號(hào):ZeGage Pro
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ZYGO 在光學(xué)元件檢測(cè) 光學(xué)元件制造對(duì)表面質(zhì)量有嚴(yán)格要求。ZYGO ZeGage Pro光學(xué)輪廓儀憑借其高精度和非接觸測(cè)量特點(diǎn),在透鏡、棱鏡、反射鏡等光學(xué)元件的表面形貌檢測(cè)中發(fā)揮作用,為光學(xué)系統(tǒng)的性能評(píng)估提供數(shù)據(jù)支持。
更新時(shí)間:2025-12-17
產(chǎn)品型號(hào):ZeGage Pro
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