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產(chǎn)品中心臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)是原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括力、熱、光、電等），從而對(duì)材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。
更新時(shí)間：2025-04-21
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