小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍?

產品簡介

小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍?
對需要分析小/大樣品的研究者而言，ZEM15不是“湊合用"的工具，而是用“大包容"設計，讓微區(qū)研究從“大海撈針"變成“精準導航"。

產品型號：ZEM15

更新時間：2025-10-28

廠商性質：代理商

訪問量：79

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臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍“以前測頁巖樣品，光找觀察區(qū)域就要半小時。"地質研究所研究員陳工坦言，小樣品（≤5cm）分析是團隊長期痛點。傳統(tǒng)電鏡樣品倉小，只能固定拇指大的切片，稍移動樣品就丟失視域；拍幾十張照片拼圖，誤差率高得讓人頭疼。

澤攸ZEM15的“大視野樣品倉+坐標標記"功能，解決了這個問題。設備支持最大8cm×8cm樣品，陳工團隊將整塊頁巖切片直接放入，通過低倍全景掃描快速定位關鍵區(qū)域，再用高倍觀察細節(jié)?！耙郧罢乙粭l礦物邊界要拍20張圖，現(xiàn)在掃描一張全景圖，軟件自動標注目標位置，效率至少提升3倍。"

更實用的是“坐標記憶"。陳工標記了一個黏土-有機質界面后，即使關機重啟，下次開機輸入坐標，設備直接跳轉到該位置?！耙郧罢覙悠废翊蠛漆?，現(xiàn)在秒定位，節(jié)省大量時間。"團隊用ZEM15完成的《頁巖儲層微孔隙分布特征》論文，因微觀結構揭示更清晰，被核心期刊優(yōu)先錄用。

不止地質領域，ZEM15的大樣品倉在半導體檢測中也發(fā)揮優(yōu)勢。某芯片廠用它觀察整片晶圓邊緣的鍍層缺陷，無需切割樣品，直接定位問題區(qū)域，不良品分析周期從2天縮短至4小時。

對需要分析小/大樣品的研究者而言，ZEM15不是“湊合用"的工具，而是用“大包容"設計，讓微區(qū)研究從“大海撈針"變成“精準導航"。小樣品分析！澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍

上一個：實驗室的第一臺電鏡澤攸ZEM15溫柔入門課?