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激光干涉儀
ZYGO光學(xué)輪廓儀
ZYGO ZeGage Pro 技術(shù):多原理支撐測(cè)量方案
ZYGO ZeGage Pro 技術(shù):多原理支撐測(cè)量方案ZeGage Pro 依托多種成熟光學(xué)測(cè)量技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)不同表面特性樣品的精準(zhǔn)檢測(cè)。其核心技術(shù)包括相移干涉(PSI)與動(dòng)態(tài)干涉(DI),相移干涉技術(shù)通過(guò)控制參考鏡的微小位移,采集多幅具有不同相位差的干涉圖像,再通過(guò)算法提取樣品表面高度信息,適用于超光滑表面測(cè)量,縱向分辨率可達(dá)到 0.1nm
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ZeGage Pro 依托多種成熟光學(xué)測(cè)量技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)不同表面特性樣品的精準(zhǔn)檢測(cè)。其核心技術(shù)包括相移干涉(PSI)與動(dòng)態(tài)干涉(DI),相移干涉技術(shù)通過(guò)控制參考鏡的微小位移,采集多幅具有不同相位差的干涉圖像,再通過(guò)算法提取樣品表面高度信息,適用于超光滑表面測(cè)量,縱向分辨率可達(dá)到 0.1nm;動(dòng)態(tài)干涉技術(shù)則能在樣品輕微振動(dòng)的環(huán)境下穩(wěn)定工作,通過(guò)實(shí)時(shí)捕捉干涉條紋變化,消除振動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,適配生產(chǎn)線上的在線檢測(cè)場(chǎng)景。
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