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澤攸電鏡ZEM20Ultro:臺式電鏡觀測新體驗

產(chǎn)品簡介

澤攸電鏡ZEM20Ultro:臺式電鏡觀測新體驗
在材料表征、生命科學(xué)、電子制造等領(lǐng)域,對微觀結(jié)構(gòu)的高分辨率觀測是推動研究與生產(chǎn)的核心需求。ZEM20Ultro 臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡(以下簡稱 ZEM20Ultro),以緊湊的臺式設(shè)計、穩(wěn)定的場發(fā)射性能與多元的分析功能,為各行業(yè)提供了便捷且可靠的微觀觀測解決方案,打破傳統(tǒng)大型電鏡對空間與操作環(huán)境的嚴苛限制。

產(chǎn)品型號:
更新時間:2025-09-23
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:14
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澤攸電鏡ZEM20Ultro:臺式電鏡觀測新體驗

在材料表征、生命科學(xué)、電子制造等領(lǐng)域,對微觀結(jié)構(gòu)的高分辨率觀測是推動研究與生產(chǎn)的核心需求。ZEM20Ultro 臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡(以下簡稱 ZEM20Ultro),以緊湊的臺式設(shè)計、穩(wěn)定的場發(fā)射性能與多元的分析功能,為各行業(yè)提供了便捷且可靠的微觀觀測解決方案,打破傳統(tǒng)大型電鏡對空間與操作環(huán)境的嚴苛限制。
一、產(chǎn)品細節(jié)與用材
ZEM20Ultro 采用一體化臺式結(jié)構(gòu),整體尺寸約為 850mm×650mm×1000mm(長 × 寬 × 高),重量控制在 120kg 以內(nèi),無需單獨建造專業(yè)實驗室,普通通風櫥或潔凈工作臺即可滿足安置需求,大幅降低了使用門檻。機身外殼選用冷軋鋼板與 ABS 工程塑料拼接,冷軋鋼板表面經(jīng)過靜電噴塑處理,具備良好的抗腐蝕與抗刮擦性能;ABS 塑料部件則采用模具一體成型,減少接縫處的粉塵堆積,便于日常清潔維護。
核心部件的用材與設(shè)計直接決定觀測精度。其場發(fā)射電子槍采用鎢單晶針尖,針尖曲率半徑小于 10nm,能穩(wěn)定發(fā)射高亮度電子束,且使用壽命可達 2000 小時以上,減少頻繁更換的維護成本。電子光學(xué)系統(tǒng)搭載多層膜電磁透鏡,透鏡材質(zhì)為高純度軟磁合金,經(jīng)過精密退火處理,可有效降低磁場干擾,確保電子束聚焦精度。樣品室采用不銹鋼材質(zhì),內(nèi)壁經(jīng)過電解拋光處理,表面粗糙度 Ra≤0.2μm,既能減少電子散射干擾,又能耐受酒精、丙酮等常用清潔劑的擦拭,保持樣品室潔凈。
操作界面設(shè)計注重實用性,配備 15.6 英寸高清觸控屏,支持多點觸控與手勢縮放,常用功能(如放大、聚焦、圖像保存)可通過快捷鍵一鍵調(diào)用。設(shè)備側(cè)面預(yù)留 USB3.0、HDMI 等接口,方便連接外部存儲設(shè)備與顯示終端,數(shù)據(jù)導(dǎo)出與結(jié)果展示更為靈活。此外,樣品臺采用電動驅(qū)動設(shè)計,支持 X/Y/Z 三軸移動,最大行程分別為 50mm×50mm×20mm,移動精度可達 1μm,適配不同尺寸樣品的觀測需求。
二、產(chǎn)品性能表現(xiàn)
  1. 分辨率與放大倍數(shù):ZEM20Ultro 在二次電子成像模式下,分辨率可達 1.5nm(加速電壓 30kV 時),10nm(加速電壓 1kV 時),能清晰呈現(xiàn)納米級別的微觀結(jié)構(gòu),如金屬納米顆粒的形貌、半導(dǎo)體芯片的電路細節(jié)。放大倍數(shù)范圍覆蓋 20×-1,000,000×,從宏觀樣品全貌觀測到微觀細節(jié)分析均可無縫切換,無需更換物鏡或調(diào)整光路。

  1. 電子束穩(wěn)定性:設(shè)備搭載數(shù)字式電子束控制模塊,加速電壓調(diào)節(jié)范圍為 0.1kV-30kV,電流調(diào)節(jié)范圍為 1pA-100nA,輸出穩(wěn)定性≤0.5%/h。即使在長時間連續(xù)觀測(如 8 小時以上)中,電子束的強度與聚焦位置變化極小,確保獲取的圖像序列一致性良好,適合動態(tài)過程觀測(如材料高溫下的結(jié)構(gòu)變化)。

  1. 樣品兼容性:支持導(dǎo)電與非導(dǎo)電樣品觀測,非導(dǎo)電樣品無需復(fù)雜鍍膜處理,通過設(shè)備內(nèi)置的低真空模式(真空度范圍 1Pa-100Pa),可直接觀測塑料、陶瓷、生物組織等絕緣樣品,避免鍍膜過程對樣品表面結(jié)構(gòu)的破壞。樣品臺最大承載重量為 50g,可適配直徑≤30mm、厚度≤10mm 的樣品,滿足多數(shù)實驗室與生產(chǎn)車間的樣品規(guī)格需求。

三、用途與使用說明
(一)主要用途
  1. 材料科學(xué)領(lǐng)域:觀測金屬材料的顯微組織、晶粒大小與分布,分析復(fù)合材料的界面結(jié)合狀態(tài),研究納米材料的形貌與尺寸分布,為材料性能優(yōu)化與新型材料研發(fā)提供微觀數(shù)據(jù)支撐。

  1. 生命科學(xué)領(lǐng)域:在低真空模式下觀測生物組織切片、細胞涂片的表面形貌,無需脫水或鍍膜處理,保持樣品自然狀態(tài);分析醫(yī)用材料(如人工gu、支架)的表面孔隙結(jié)構(gòu),評估其生物相容性。

  1. 電子制造領(lǐng)域:檢測半導(dǎo)體芯片的焊接缺陷(如虛焊、焊球氧化)、PCB 板的線路腐蝕與斷線,觀測微型電子元件(如 MEMS 傳感器)的結(jié)構(gòu)完整性,助力電子產(chǎn)品質(zhì)量控制。

(二)使用說明(以 “非導(dǎo)電陶瓷樣品表面觀測" 為例)
  1. 樣品準備:將陶瓷樣品切割為直徑≤20mm、厚度≤5mm 的小塊,用無塵布蘸取酒精清潔表面,去除粉塵與油污;若樣品表面存在尖銳邊緣,用砂紙輕微打磨,避免損壞樣品臺或影響觀測角度。

  1. 設(shè)備啟動與真空準備:打開 ZEM20Ultro 主機電源,啟動配套操作軟件,選擇 “低真空模式",設(shè)置真空度為 10Pa(根據(jù)樣品絕緣程度調(diào)整);點擊 “抽真空" 按鈕,設(shè)備自動完成預(yù)抽與主抽真空流程,待真空度達到設(shè)定值后(軟件提示 “真空就緒"),進入下一步操作。

  1. 樣品裝載與定位:打開樣品室門,將樣品放置在樣品臺中心,通過樣品臺微調(diào)旋鈕固定樣品;關(guān)閉樣品室門,在軟件界面控制 X/Y 軸移動,將觀測區(qū)域調(diào)整至視野中心,調(diào)節(jié) Z 軸高度,使樣品表面與電子束聚焦平面重合。

  1. 成像參數(shù)設(shè)置:選擇 “二次電子成像" 模式,設(shè)置加速電壓為 10kV(兼顧分辨率與樣品損傷),電子束電流為 10pA,掃描速度為 “標準模式"(幀頻 5fps);點擊 “自動聚焦" 與 “自動亮度 / 對比度",軟件自動優(yōu)化成像參數(shù),獲取清晰的樣品表面圖像。

  1. 圖像采集與保存:調(diào)整放大倍數(shù)(如先以 1000× 觀測整體形貌,再以 50000× 觀測細節(jié)),通過觸控屏或鼠標拖動選擇感興趣區(qū)域;點擊 “圖像保存",選擇保存格式(BMP、TIFF 或 JPEG),設(shè)置文件名稱與存儲路徑,完成圖像采集;若需進行多區(qū)域觀測,重復(fù)步驟 4-5,或設(shè)置 “自動掃描序列" 實現(xiàn)批量采集。

  1. 設(shè)備關(guān)閉:觀測完成后,將放大倍數(shù)調(diào)至(20×),點擊 “放氣" 按鈕,待樣品室恢復(fù)大氣壓后,打開樣品室門取出樣品;關(guān)閉操作軟件,依次關(guān)閉主機電源與真空系統(tǒng)電源,清潔樣品臺與設(shè)備表面,完成本次操作。

四、ZEM20Ultro 參數(shù)表
項目
規(guī)格參數(shù)
設(shè)備型號
ZEM20Ultro(臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡)
成像模式
二次電子成像(SE)、背散射電子成像(BSE,可選配)
分辨率(二次電子)
1.5nm(30kV),10nm(1kV)
放大倍數(shù)
20×-1,000,000×
加速電壓
0.1kV-30kV
電子束電流
1pA-100nA
真空系統(tǒng)
高真空模式:≤1×10??Pa;低真空模式:1Pa-100Pa
樣品臺
X/Y/Z 三軸電動,行程 50mm×50mm×20mm,移動精度 1μm,最大承載 50g
樣品兼容性
導(dǎo)電 / 非導(dǎo)電樣品(低真空模式支持非導(dǎo)電樣品)
操作界面
15.6 英寸高清觸控屏,支持快捷鍵與手勢操作
數(shù)據(jù)輸出
USB3.0、HDMI,支持 BMP/TIFF/JPEG 格式圖像保存,可導(dǎo)出原始數(shù)據(jù)用于后期分析
設(shè)備尺寸(長 × 寬 × 高)
約 850mm×650mm×1000mm
設(shè)備重量
約 120kg
電源要求
220V AC,50/60Hz,最大功率 1500W
工作環(huán)境
溫度 20-28℃,相對濕度 30%-70%(無冷凝),無強磁場與振動干擾
ZEM20Ultro 臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡,以緊湊的設(shè)計突破空間限制,以穩(wěn)定的性能保障觀測精度,以多元的功能適配不同領(lǐng)域需求。無論是實驗室的科研探索,還是生產(chǎn)車間的質(zhì)量檢測,它都能提供便捷、高效的微觀觀測支持,幫助用戶更深入地探索微觀世界的奧秘。


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