對于專注于微型器件、材料小樣片或需要進(jìn)行高通量測量的用戶而言，儀器的緊湊性和測量效率顯得尤為重要。布魯克ContourX-100三維光學(xué)輪廓儀正是針對這類應(yīng)用場景優(yōu)化設(shè)計(jì)的經(jīng)濟(jì)型產(chǎn)品。

ContourX-100采用了相對緊湊的設(shè)計(jì)，其樣品臺行程為100 x 100 x 100毫米，最大樣品高度為100毫米。這個(gè)尺寸對于測量MEMS傳感器、微型光學(xué)透鏡、光纖端面、小型軸承、材料摩擦實(shí)驗(yàn)樣塊等樣品來說已經(jīng)足夠。較小的臺面尺寸意味著更快的移動速度和更短的定位時(shí)間，從而提升了單次測量的整體效率。

雖然定位在入門至中級級別，但ContourX-100的核心測量技術(shù)與同系列型號一脈相承。它同樣采用白光干涉原理，能夠提供可信賴的納米級垂直分辨率數(shù)據(jù)。儀器的基座和框架結(jié)構(gòu)經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)，在保證剛性和穩(wěn)定性的同時(shí)，降低了整機(jī)成本。

該型號通常標(biāo)配常用的物鏡，如10倍、20倍和50倍，足以應(yīng)對大多數(shù)小樣品的微觀形貌觀測需求。其軟件系統(tǒng)包含了ContourX系列的全套分析工具，從基本的形貌顯示、粗糙度分析到復(fù)雜的三維參數(shù)計(jì)算，確保用戶獲得全面的數(shù)據(jù)支持。

使用說明： ContourX-100的操作流程簡潔明了。放置樣品后，用戶可在軟件上直接控制臺面運(yùn)動，選擇測量點(diǎn)。點(diǎn)擊開始后，儀器自動完成掃描。對于需要批量檢測的相同樣品，可以預(yù)先設(shè)置好測量點(diǎn)位序列，進(jìn)行自動連續(xù)測量，非常適合生產(chǎn)線上的抽檢或研發(fā)中的快速篩選。

總結(jié)來說， ContourX-100是一款側(cè)重于實(shí)用性、效率和經(jīng)濟(jì)性的三維光學(xué)輪廓儀。它舍棄了部分大型樣品的測量能力，換來了更小的占地面積、更快的測量節(jié)奏和更易接受的入門成本，為預(yù)算有限或任務(wù)集中的用戶提供了一個(gè)切實(shí)可行的表面計(jì)量方案。