BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選

產(chǎn)品簡介

BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選
對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構(gòu)，布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能，成為微觀測量工作的理想工具。

產(chǎn)品型號：ContourX-200

更新時間：2025-08-26

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：74

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選

對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構(gòu)，布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能，成為微觀測量工作的理想工具。

產(chǎn)品細節(jié)

ContourX-200 采用迷你桌面設(shè)計，機身尺寸僅 500mm×380mm×420mm，重量 12kg，可直接放置在普通實驗臺角落，極大節(jié)省空間。操作界面為 7 英寸觸控屏，僅保留核心功能按鍵，搭配圖文引導菜單，學生或新手能快速掌握操作。樣品臺為手動調(diào)節(jié)式，配備刻度標尺，便于直觀判斷樣品移動距離，雖無自動平移功能，但結(jié)構(gòu)簡單可靠，維護成本低。設(shè)備光學部件集成度高，鏡頭與光源一體化設(shè)計，開箱后連接電源即可使用，無需復雜調(diào)試。機身側(cè)面設(shè)有便攜提手，方便在不同實驗室間移動，滿足多房間教學需求。

產(chǎn)品性能

ContourX-200 采用白光干涉測量技術(shù)，能對表面粗糙度 Ra 值 0.01-10μm 的樣品進行有效測量，如塑料樣品的表面紋理、薄金屬片的厚度差。設(shè)備測量數(shù)據(jù)重復性較好，相同條件下多次測量偏差小，適合教學實驗中對比不同樣品特性。測量速度適中，單次小區(qū)域（500μm×500μm）掃描時間約 1-2 分鐘，既能完成教學演示，又不會讓實驗過程冗長。此外，支持數(shù)據(jù)實時顯示，掃描中可動態(tài)觀察三維形貌生成，便于教學中講解測量原理。

用材講究

外殼采用輕質(zhì)高強度工程塑料，具備一定抗摔能力，適合教學環(huán)境頻繁移動。光學鏡頭選用高透光率樹脂鏡片，滿足基礎(chǔ)測量需求，且成本更低、不易破碎。樣品臺臺面采用耐磨亞克力材質(zhì)，表面光滑平整，無需額外夾具，簡化操作步驟。內(nèi)部電路采用低功耗設(shè)計，搭配節(jié)能光源，降低耗電量，減少設(shè)備發(fā)熱。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
橫向分辨率	最高可達 0.5μm
縱向分辨率	低至 1nm
縱向測量范圍	1nm-5mm
樣品臺尺寸	100mm×100mm
樣品臺調(diào)節(jié)方式	手動平移（X/Y 軸）
掃描速度	0.5-5mm/s（可調(diào)）
數(shù)據(jù)接口	USB 2.0
設(shè)備重量	12kg
工作溫度	18-28℃
相對濕度	30%-60%（無冷凝）

廣泛用途

在高校教學實驗中，用于材料科學基礎(chǔ)實驗，讓學生學習表面粗糙度測量；在中職機電專業(yè)實訓中，幫助學生檢測手工打磨零件的表面質(zhì)量；在小型科研團隊中，用于新材料初步篩選，如檢測不同配方涂層的厚度均勻性；在中小學科普活動中，觀察樹葉表面、昆蟲翅膀的微觀形貌，激發(fā)學生興趣。

使用說明

使用前放置在平穩(wěn)實驗臺，避免靠近窗戶或空調(diào)出風口。連接電源與電腦，安裝配套軟件并完成設(shè)備連接。樣品清潔后直接放置在樣品臺中央，通過手動旋鈕移動樣品臺，使測量區(qū)域?qū)淑R頭。選擇 “快速測量" 或 “精細測量" 模式，設(shè)置掃描范圍與分辨率，點擊 “對焦" 后啟動測量。測量中避免觸碰設(shè)備，結(jié)束后導出數(shù)據(jù)至電腦用于實驗報告。實驗后關(guān)閉電源，用干布擦拭樣品臺，鏡頭有灰塵時用專用鏡頭紙輕擦，每學期檢查設(shè)備光學部件是否偏移。

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