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澤攸臺階儀:科研到產(chǎn)線全鏈路形貌測量專家

產(chǎn)品簡介

澤攸臺階儀:科研到產(chǎn)線全鏈路形貌測量專家
在微納制造領(lǐng)域,表面形貌的量化分析是工藝優(yōu)化與質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。澤攸科技JS系列臺階儀通過自主創(chuàng)新的傳感器技術(shù)與智能化軟件系統(tǒng),為半導(dǎo)體、新能源、生物醫(yī)療等行業(yè)提供高適應(yīng)性的形貌測量解決方案,覆蓋從基礎(chǔ)研究到規(guī)模化生產(chǎn)的全鏈路需求。

產(chǎn)品型號:
更新時間:2025-08-22
廠商性質(zhì):代理商
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澤攸臺階儀:科研到產(chǎn)線全鏈路形貌測量專家

在微納制造領(lǐng)域,表面形貌的量化分析是工藝優(yōu)化與質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。澤攸科技JS系列臺階儀通過自主創(chuàng)新的傳感器技術(shù)與智能化軟件系統(tǒng),為半導(dǎo)體、新能源、生物醫(yī)療等行業(yè)提供高適應(yīng)性的形貌測量解決方案,覆蓋從基礎(chǔ)研究到規(guī)模化生產(chǎn)的全鏈路需求。

技術(shù)架構(gòu):雙傳感器與動態(tài)力控的協(xié)同創(chuàng)新

澤攸臺階儀的核心競爭力源于其自主研發(fā)的直立式雙LVDT傳感器系統(tǒng):

  • 壓力-位移雙閉環(huán)控制:傳感器1實時監(jiān)測探針與樣品接觸力(范圍0.5-50mg),通過PID算法動態(tài)調(diào)整壓電陶瓷位移,確保恒力掃描;傳感器2獨立反饋臺階高度信號,避免傳統(tǒng)杠桿式結(jié)構(gòu)的圓弧誤差。在某光伏企業(yè)的CIGS薄膜檢測中,該技術(shù)將厚度測量標(biāo)準(zhǔn)差從1.2nm降至0.3nm。

  • 亞微米級力控精度:通過壓電驅(qū)動與LVDT傳感單元的集成設(shè)計,實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)行程內(nèi)0.05nm的位移分辨率。在MEMS器件的應(yīng)力測量中,JS系列可捕捉曲率半徑≤1μm的微觀形變,為器件可靠性設(shè)計提供數(shù)據(jù)支持。

型號矩陣:從手動到全自動的場景覆蓋

JS系列提供四款主力型號,適配不同用戶需求:

  • JS100B/JS200B/JS300B:半自動設(shè)計,支持手動樣品臺與電動旋轉(zhuǎn)臺(分辨率0.1°),適用于實驗室研發(fā)與小批量檢測。其XY樣品臺行程分別為150mm/200mm/300mm,可覆蓋6-12英寸晶圓的全域測量。

  • JS2000B:全自動型號,集成EFEM晶圓傳輸系統(tǒng)與正側(cè)視雙相機,支持無人化2D/3D掃描。在某LED企業(yè)的外延層檢測中,該型號將單片晶圓測量時間從45分鐘縮短至12分鐘,同時將粗糙度Ra值的重復(fù)性偏差控制在0.2nm以內(nèi)。

材料與工藝:耐用性設(shè)計的細(xì)節(jié)考量

  • 探針系統(tǒng):采用金剛石復(fù)合探針,曲率半徑經(jīng)離子束拋光至<100nm,兼顧硬度與耐磨性。針對軟質(zhì)材料(如有機薄膜),提供硅探針選項,通過降低彈性模量減少接觸損傷。

  • 掃描平臺:主體結(jié)構(gòu)采用花崗巖基座與鋁合金導(dǎo)軌的復(fù)合設(shè)計,在保證減震性能的同時控制熱膨脹系數(shù)(<10??/℃)。導(dǎo)軌表面鍍硬鉻并經(jīng)超精密研磨,直線度誤差≤1μm/100mm,確保長距離掃描的平面度。

  • 環(huán)境適應(yīng)性:工作溫度范圍15-35℃,濕度≤70%RH無冷凝。JS2000B型號配備溫濕度補償模塊,可自動修正環(huán)境波動對測量結(jié)果的影響。

軟件功能:從數(shù)據(jù)采集到智能分析

澤攸臺階儀的軟件系統(tǒng)集成三大核心模塊:

  1. 基礎(chǔ)測量:支持臺階高度、粗糙度(Ra/Rq/Rz)、薄膜厚度等參數(shù)的一鍵計算,兼容ISO 4287/4288、ASME B46.1等國際標(biāo)準(zhǔn)。

  2. 高級分析:提供3D形貌重建、波紋度分離、頻譜分析等功能,助力用戶深入探究表面形貌的成因。例如,在某硬盤磁頭企業(yè)的檢測中,通過頻譜分析定位到10-50μm周期性的表面波紋,指導(dǎo)拋光工藝優(yōu)化。

  3. 自動化流程:支持腳本編程與批量處理,可與MES/ERP系統(tǒng)對接,實現(xiàn)產(chǎn)線數(shù)據(jù)的實時上傳與追溯。某汽車零部件供應(yīng)商通過集成JS系列設(shè)備,將質(zhì)檢環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)采集效率提升300%。

典型應(yīng)用案例

  1. 半導(dǎo)體制造:晶圓表面缺陷檢測
    某12英寸晶圓廠使用JS300B檢測化學(xué)機械拋光(CMP)后的表面平整度,通過3D掃描功能識別出0.5μm深度的局部凹陷,指導(dǎo)拋光液配方調(diào)整,將良率從88%提升至95%。

  2. 新能源材料:鈣鈦礦薄膜厚度控制
    在錫基鈣鈦礦太陽能電池研發(fā)中,JS200B的亞微米探針可精確測量35-40nm超薄層的厚度均勻性,結(jié)合SPC分析功能,幫助團隊將器件遷移率從58 cm2·V?1·s?1優(yōu)化至65 cm2·V?1·s?1。

  3. 生物醫(yī)療:人工關(guān)節(jié)表面紋理分析
    某骨科植入物企業(yè)利用JS系列量化噴砂處理后的表面粗糙度參數(shù)(Rz值),通過反饋數(shù)據(jù)優(yōu)化粒徑控制精度至±3μm,顯著提升材料與人體組織的生物相容性。

操作指南:從開機到報告生成

  1. 設(shè)備初始化:開機后自動執(zhí)行自檢程序,檢查探針壓力、掃描臺平整度等關(guān)鍵參數(shù)。用戶可通過軟件界面查看設(shè)備狀態(tài),確認(rèn)無誤后進入測量流程。

  2. 樣品定位:JS2000B支持自動晶圓傳輸與視覺定位,半自動型號需手動放置樣品并調(diào)整XY臺至測試點上方。建議使用真空吸附臺固定柔性材料,防止掃描過程中形變。

  3. 參數(shù)設(shè)置:根據(jù)材料硬度選擇探針壓力(硬質(zhì)材料建議20-50mg,軟質(zhì)材料≤10mg),掃描速度設(shè)置為10-30μm/s以平衡效率與精度。JS2000B提供“快速掃描"“精細(xì)掃描"兩種預(yù)設(shè)模式,用戶可根據(jù)需求一鍵切換。

  4. 數(shù)據(jù)分析與導(dǎo)出:測量完成后,軟件自動生成包含臺階高度、粗糙度、3D形貌等參數(shù)的報告。用戶可將數(shù)據(jù)導(dǎo)出為ASC/CSV格式,或直接打印PDF報告,支持自定義模板與LOGO嵌入。

澤攸臺階儀以模塊化設(shè)計與智能化軟件,為微納制造領(lǐng)域提供從研發(fā)到量產(chǎn)的全鏈路形貌測量解決方案。其開放的技術(shù)架構(gòu)更支持與拉曼光譜、AFM等設(shè)備聯(lián)用,助力用戶探索微觀世界的新可能。


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