澤攸 ZEM20：兼顧效率與細節(jié)的電鏡

產(chǎn)品簡介

澤攸 ZEM20：兼顧效率與細節(jié)的電鏡
適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結(jié)構(gòu)觀察等領域。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-22

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品分類

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臺式電鏡&臺階儀&原位分析

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澤攸電鏡 ZEM20 在設計上注重平衡測量效率與成像質(zhì)量，其電子槍采用 LaB6 燈絲，較傳統(tǒng)鎢燈絲具有更高的亮度和更長的使用壽命，在相同加速電壓下能獲得更清晰的圖像。

加速電壓可在 1 - 20kV 范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，束流穩(wěn)定度優(yōu)于 2%/h，確保長時間觀察時圖像質(zhì)量的一致性。分辨率方面，二次電子像在 30kV 下可達 3.0nm，背散射電子像為 5.0nm，能滿足多數(shù)材料的納米級結(jié)構(gòu)分析需求。澤攸 ZEM20：兼顧效率與細節(jié)的電鏡

樣品臺采用高精度步進電機驅(qū)動，移動范圍為 X/Y ±5mm，Z 軸調(diào)節(jié)范圍 10mm，定位精度達 1μm，可實現(xiàn)樣品的精準定位與多區(qū)域觀察。設備配備數(shù)字成像系統(tǒng)，圖像采集速度達 15 幀 / 秒，支持實時觀察與快速存儲。

用材上，鏡筒內(nèi)部關鍵部件采用無氧銅材質(zhì)，經(jīng)特殊工藝處理減少雜散磁場干擾；真空系統(tǒng)由機械泵與分子泵組成，抽氣時間短，從大氣到工作真空（≤5×10??Pa）約需 8 分鐘。

使用說明中明確了操作步驟：開機預熱 30 分鐘后，加載樣品并抽真空，待真空達標后設置加速電壓與放大倍數(shù)，通過搖桿控制樣品臺移動至觀察區(qū)域即可成像。適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結(jié)構(gòu)觀察等領域。澤攸 ZEM20：兼顧效率與細節(jié)的電鏡

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